世界首款帶溫度補償功能的面銅測厚儀
儀器品牌：日立 HITACHI
儀器型號：CM1165
面銅測量的結果往往受到樣品溫度的影響。CMI165 的溫度補償功能解決了這個問題確保測量結果精確而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測厚儀配有探針防護罩，確保探針的耐用性，即使在惡劣的使用條件下也可以照常進行檢測。
● 可測試高/低溫的PCB銅箔109.8
?● 免去了試樣成本
● 顯示單位可為μm， mils或oz 。
?● 可在PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進行相關?HiTACl11?
● 銅箔來料檢驗?
● 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試
● 可用于電鍍銅后的面銅厚度測量
?● SRP-T1探針可由客戶自行替換，替換后無需再校準即可使用
● 備用的SRP-T1探頭減少了用戶設備的停工期
● 探針的照明功能有助于線型銅箔檢測時的準確定位
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